Agilent 4156C

Pour l’amélioration des performances des transistors développés par de grands groupes de la microélectronique, le laboratoire de recherche M@CSEE a développé un banc de test dédié à la mesure du rapport signal / bruit. Pour cela ce banc de caractérisation de bruit en fréquence combine une mesure des bruits basses fréquences (Agilent 89410) et une mesure des paramètres de semi-conducteur (Agilent 4156C). Pour un résultat amélioré les mesures des instruments sont optimisées pour chaque plage de fréquence.